[发明专利]一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法和装置在审
| 申请号： | 202110687010.7 | 申请日： | 2021-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN113427802A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 王帅;张威;李永刚 | 申请（专利权）人： | 南京贝迪新材料科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B29D7/01 | 分类号： | B29D7/01 |
| 代理公司： | 南京九致知识产权代理事务所(普通合伙) 32307 | 代理人： | 严巧巧 |
| 地址： | 210000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法和装置，该方法包括：获取由相同原料制成的多种LCP粒子的生产参数，其中，多种LCP粒子中的每一种粒子生产时使用了不同的生产参数；对多种LCP薄膜中每一种LCP薄膜进行介电常数测量，得到每一种LCP薄膜对应的介电常数；保存每一种LCP粒子的生产参数与所制成的LCP薄膜的介电常数的对应关系；接收待制备的LCP薄膜的预定介电常数；根据预定介电常数从对应关系获取LCP粒子的生产参数。通过本申请解决了现有技术中并没有关于LCP粒子生产参数对LCP薄膜的介电常数影响的研究，从而无法制备出介电常数符合要求的LCP薄膜的问题，能够在一定程度上生产出的LCP薄膜的介电参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 lcp 薄膜 生产 参数 质量 影响 预估 方法 装置 | ||
【主权项】：
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