[发明专利]一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法和装置

说明书

本申请公开了一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法和装置，该方法包括：获取由相同原料制成的多种LCP粒子的生产参数，其中，多种LCP粒子中的每一种粒子生产时使用了不同的生产参数；对多种LCP薄膜中每一种LCP薄膜进行介电常数测量，得到每一种LCP薄膜对应的介电常数；保存每一种LCP粒子的生产参数与所制成的LCP薄膜的介电常数的对应关系；接收待制备的LCP薄膜的预定介电常数；根据预定介电常数从对应关系获取LCP粒子的生产参数。通过本申请解决了现有技术中并没有关于LCP粒子生产参数对LCP薄膜的介电常数影响的研究，从而无法制备出介电常数符合要求的LCP薄膜的问题，能够在一定程度上生产出的LCP薄膜的介电参数。

技术领域

本申请涉及到LCP生产领域，具体而言，涉及一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法和装置。

背景技术

5G通信设备的频率更高、传输速度更快，从而对设备所使用的电子材料的介电常数和介电损耗因子等技术指标提出了更高、更严苛的要求。传统的环氧基覆铜板及聚酰亚胺基的覆铜板无法满足5G高频通信所必需的电性能要求。液晶聚合物(Liquid-Crystal-Polymer，简称LCP)高分子材料由于其具备极低的介电常数和介电损耗因子，并且具有低吸湿、耐化性佳、高阻气性等特点，使其成为5G时代用来生产覆铜板的最重要的基础材料。

LCP介电常数对5G通信设备来说是非常重要，每次在进行生产的时候，LCP薄膜生产设备即使在相同的工艺条件下，生产出的LCP薄膜的介电常数也存在一些差别。由于LCP薄膜的生产工艺相同，因此，原料的选择至关重要。

但是，在现有技术中并没有关于LCP粒子生产参数对LCP薄膜的介电常数影响的研究，从而无法制备出介电常数符合要求的LCP薄膜。

发明内容

本申请实施例提供了一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法和装置，以至少解决现有技术中并没有关于LCP粒子生产参数对LCP薄膜的介电常数影响的研究，从而无法制备出介电常数符合要求的LCP薄膜的问题。

根据本申请的一个方面，提供了一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法，包括：获取由相同原料制成的多种LCP粒子的生产参数，其中，所述多种LCP粒子中的每一种粒子生产时使用了不同的生产参数，所述多种LCP粒子用于分别制成多种LCP薄膜；对所述多种LCP薄膜中每一种LCP薄膜进行介电常数测量，得到每一种LCP薄膜对应的介电常数；保存每一种LCP粒子的生产参数与所制成的LCP薄膜的介电常数的对应关系；接收待制备的LCP薄膜的预定介电常数；根据所述预定介电常数从所述对应关系获取LCP粒子的生产参数，其中，获取到的所述LCP粒子的生产参数被用于进行LCP粒子的生产。

进一步地，将所述多种LCP粒子分别制成多种LCP薄膜包括：使用同一制备流程并使用同一制备参数分别将所述多种LCP粒子分别制成多种LCP薄膜，其中，每种LCP粒子对应一种LCP薄膜，其中所述同一制备参数是预先测试得到的。

进一步地，还包括：使用相同的LCP粒子根据所述制备流程采用不同的制备参数制成不同的LCP薄膜；确定所述不同的LCP薄膜中的每种薄膜的介电常数；获取所述不同的LCP薄膜对应的介电常数中最优的介电常数，并获取最优的介电常数所对应的制备参数；将所述最优的介电常数配置为所述预先测试得到的同一制备参数。

进一步地，获取由相同原料制成的多种LCP粒子的生产参数包括：从每种LCP粒子生产设备通过网络获取每种LCP粒子的生产参数，其中，LCP粒子的生产设备与第一生产控制设备连接，所述第一生产控制设备用于根据生产参数控制生产设备进行生产。

进一步地，根据所述预定介电常数获取LCP粒子的生产参数之后，所述方法还包括：将获取到的所述LCP粒子的生产参数发送至LCP粒子的生产设备。