[发明专利]一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法和装置

权利要求书

1.一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估方法，其特征在于，包括：

获取由相同原料制成的多种LCP粒子的生产参数，其中，所述多种LCP粒子中的每一种粒子生产时使用了不同的生产参数，所述多种LCP粒子用于分别制成多种LCP薄膜；

对所述多种LCP薄膜中每一种LCP薄膜进行介电常数测量，得到每一种LCP薄膜对应的介电常数；

保存每一种LCP粒子的生产参数与所制成的LCP薄膜的介电常数的对应关系；

接收待制备的LCP薄膜的预定介电常数；

根据所述预定介电常数从所述对应关系获取LCP粒子的生产参数，其中，获取到的所述LCP粒子的生产参数被用于进行LCP粒子的生产。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述多种LCP粒子分别制成多种LCP薄膜包括：

使用同一制备流程并使用同一制备参数分别将所述多种LCP粒子分别制成多种LCP薄膜，其中，每种LCP粒子对应一种LCP薄膜，其中所述同一制备参数是预先测试得到的。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

使用相同的LCP粒子根据所述制备流程采用不同的制备参数制成不同的LCP薄膜；

确定所述不同的LCP薄膜中的每种薄膜的介电常数；

获取所述不同的LCP薄膜对应的介电常数中最优的介电常数，并获取最优的介电常数所对应的制备参数；

将所述最优的介电常数配置为所述预先测试得到的同一制备参数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取由相同原料制成的多种LCP粒子的生产参数包括：

从每种LCP粒子生产设备通过网络获取每种LCP粒子的生产参数，其中，LCP粒子的生产设备与第一生产控制设备连接，所述第一生产控制设备用于根据生产参数控制生产设备进行生产。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述预定介电常数获取LCP粒子的生产参数之后，所述方法还包括：

将获取到的所述LCP粒子的生产参数发送至LCP粒子的生产设备。

6.一种LCP薄膜生产参数对质量影响的预估装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取由相同原料制成的多种LCP粒子的生产参数，其中，所述多种LCP粒子中的每一种粒子生产时使用了不同的生产参数，所述多种LCP粒子用于分别制成多种LCP薄膜；

测量模块，用于对所述多种LCP薄膜中每一种LCP薄膜进行介电常数测量，得到每一种LCP薄膜对应的介电常数；

保存模块，用于保存每一种LCP粒子的生产参数与所制成的LCP薄膜的介电常数的对应关系；

接收模块，用于接收待制备的LCP薄膜的预定介电常数；

第二获取模块，用于根据所述预定介电常数从所述对应关系获取LCP粒子的生产参数，其中，获取到的所述LCP粒子的生产参数被用于进行LCP粒子的生产。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述多种LCP薄膜中的每一种是使用同一制备流程并使用同一制备参数制成的，其中，所述每种LCP薄膜的原料为所述多种LCP粒子中的不同LCP粒子，每种LCP粒子对应一种LCP薄膜，其中所述同一制备参数是预先测试得到的。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

确定模块，用于在使用相同的LCP粒子根据所述制备流程采用不同的制备参数制成不同的LCP薄膜的情况下；确定所述不同的LCP薄膜中的每种薄膜的介电常数；

第三获取模块，用于获取所述不同的LCP薄膜对应的介电常数中最优的介电常数，并获取最优的介电常数所对应的制备参数；

配置模块，用于将所述最优的介电常数配置为所述预先测试得到的同一制备参数。