[发明专利]一种应用于芯片低压过程的复位防错电路与方法在审
| 申请号： | 202110670737.4 | 申请日： | 2021-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN113392619A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 徐望成;林建安;袁玄玄 | 申请（专利权）人： | 上海磐启微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 郑立 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用于芯片低压过程的复位防错电路与方法，涉及电子电路技术领域，包括：步骤1、通过大量测试采集芯片复位特征数据；步骤2、根据所述复位特征数据得到复位特征曲线；步骤3、建立预测的数学模型；步骤4、元器件参数匹配计算。本发明在芯片电源异常时使芯片处于复位状态，在异常消失时自动释放复位，使芯片可以自行恢复正常，从而减少外部环境对芯片的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 芯片 低压 过程 复位 电路 方法 | ||
【主权项】：
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