[发明专利]一种辐照环境下的阻变存储器伏安特性测试系统在审
| 申请号： | 202110597783.6 | 申请日： | 2021-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN113393894A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 张嘉伟;陈俊辉;秦司晨;刘朝辉 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 刘娜 |
| 地址： | 710048 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐照环境下的阻变存储器伏安特性测试系统，包括能够供电的程控电源，程控电源连接微探针测试系统、半导体参数分析仪，微探针测试系统和半导体参数分析仪均连接测试金属探针导体，测试金属探针导体外部分套接多层绝缘结构，两个测试金属探针导体末端均连接在待测阻变存储器上；通过内外两层环氧树脂绝缘层将空间辐射的大量电子阻挡在测量探针之外，两层铜屏蔽层在端部接地，将少部分进入测量探针内部的电子有效导入大地，屏蔽层将全部导线中可能的误差信号消除，使得工作电路中的电压电流信号不发生畸变，最终得出准确的伏安特性曲线，从而正确评估阻变存储器的基本特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐照 环境 存储器 伏安 特性 测试 系统 | ||
【主权项】：
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