[发明专利]闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备在审
| 申请号： | 202110591310.5 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113223597A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 李士达;雍尚刚;武甲东 | 申请（专利权）人： | 北京集创北方科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G06F3/06;G06F12/0882 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技术开发区景园北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开涉及闪存测试方法、装置、存储介质和终端设备，该方法包括：从闪存的待测试区域中读取第一数据；根据所述第一数据生成测试向量；根据所述测试向量对闪存进行数据写入操作，使所述待测试区域中存储有第二数据；从所述待测试区域中读取所述第二数据，根据所述第二数据与所述测试向量是否一致，确定针对所述待测试区域的测试结果。根据本申请实施例，可以实现在对待测试区域的功能进行测试时，减少闪存擦除次数，节约时间，提高闪存的使用寿命，还可以防止非待测试区域的数据被误修改。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 测试 方法 装置 存储 介质 终端设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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