[发明专利]NAND快闪阵列缺陷实时检测在审
| 申请号： | 202110590118.4 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113744794A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 郭晓江;辉俊胜;M·皮卡尔迪;M·特里帕蒂 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 彭晓文 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请案涉及NAND快闪阵列缺陷实时检测。一种存储器装置包括：存储器阵列；字线驱动器电路，其包含经配置以产生施加到字线的程序电压目标以对所述存储器阵列的存储器单元进行编程的电荷泵电路及根据泵电路输出电压与所述程序电压目标的比较来使用控制信号激活所述电荷泵电路的控制回路；传感器电路，其在所述电荷泵电路输出达到所述程序电压目标之后比较所述控制信号的占空比与指定占空比及根据所述占空比提供由所述电荷泵电路产生的电流的指示；及逻辑电路系统，其在由所述电荷泵电路产生的所述电流大于指定阈值电流时产生故障指示。 | ||
| 搜索关键词： | nand 阵列 缺陷 实时 检测 | ||
【主权项】：
暂无信息
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