[发明专利]量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机在审
| 申请号： | 202110588671.4 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN115409182A | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 石汉卿;张昂 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06N10/20 | 分类号： | G06N10/20;G06N10/40;G06N10/70;G06F11/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机，所述方法包括：接收实验流程配置指令；获取与所述实验流程配置指令对应的各实验流程的实验参数；响应实验运行指令，施加与所述实验参数对应的测试信号至量子芯片；响应第一显示指令，显示所示量子芯片基于所述测试信号反馈的测试结果。本申请能够提将实验流程的实验参数配置和测试结果通过界面可视化、提高操作效率和用户体验。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 芯片 测试 方法 系统 存储 介质 以及 计算机 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥本源量子计算科技有限责任公司，未经合肥本源量子计算科技有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110588671.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
