[发明专利]量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机

说明书

本申请公开了一种量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机，所述方法包括：接收实验流程配置指令；获取与所述实验流程配置指令对应的各实验流程的实验参数；响应实验运行指令，施加与所述实验参数对应的测试信号至量子芯片；响应第一显示指令，显示所示量子芯片基于所述测试信号反馈的测试结果。本申请能够提将实验流程的实验参数配置和测试结果通过界面可视化、提高操作效率和用户体验。

技术领域

本申请属于量子计算领域，特别是一种量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机。

背景技术

在现有技术中，对量子芯片的参数测试过程，通常是由测试人员手动配置测试设备的测试参数后进行测试的。具体的，测试人员需要手动频繁设置量子测控仪器的各类测试参数后人工进行测量，并频繁收集每个实验流程的测量数据后，分析测试结果，此种方式不仅费时费力，影响测试效率。

发明内容

本申请的目的是提供一种量子芯片测试方法、系统、存储介质以及量子计算机，以解决现有技术中的不足，它能够提将实验流程的实验参数配置和测试结果通过界面可视化、提高操作效率和用户体验。

本申请技术方案如下：

本申请一方面提供一种量子芯片测试方法，所述方法包括：

接收实验流程配置指令；获取与所述实验流程配置指令对应的各实验流程的实验参数；响应实验运行指令，施加与所述实验参数对应的测试信号至量子芯片；响应第一显示指令，显示所示量子芯片基于所述测试信号反馈的测试结果。

如上所述的方法，进一步的，所述实验参数包括通道编号和通道参数，所述施加与所述实验参数对应的测试信号至量子芯片的步骤，包括：施加与所述通道参数对应的测试信号至所述量子芯片上与所述通道编号对应的量子比特。

如上所述的方法，进一步的，所述施加与所述通道参数对应的测试信号至所述量子芯片上与所述通道编号对应的量子比特，包括：依次施加所述测试信号至所述量子芯片上与所述通道编号对应的量子比特；或同时施加所述测试信号至所述量子芯片上与所述通道编号对应的量子比特。

如上所述的方法，进一步的，所述通道参数包括阈值信息和步长信息，所述施加与所述通道参数对应的测试信号至所述量子芯片上与所述通道编号对应的量子比特，包括：获取所述通道编号；依据所述阈值信息和所述步长信息依次生成对应的测试信号并输出至与所述通道编号对应的所述量子比特。

如上所述的方法，进一步的，所述方法还包括：响应第二显示指令，显示所述量子芯片基于对应的测试信号反馈的实时测试结果。

如上所述的方法，进一步的，所述方法还包括：基于所述测试结果生成对应的参数配置文件。

本申请的另一方面提供一种量子芯片测试系统，包括：指令配置模块，用于接收量子芯片测试实验的实验流程配置指令；获取模块，用于获取与所述实验流程配置指令对应的各实验流程的实验参数；测试模块，用于响应于实验运行指令，施加与所述实验参数对应的测试信号至量子芯片；显示模块，用于响应第一显示指令，显示所示量子芯片基于所述测试信号反馈的测试结果。

本申请的再一方面提供一种计算机可读存储介质，，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序被处理器运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至6中任意一项所述方法。

本申请的再一方面提供一种量子芯片测试设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述方法。

本申请的再一方面提供一种量子计算机，，所述量子计算机包括上述的量子芯片测试设备或量子芯片测试系统，或所述量子计算机根据上述中任一项所述方法实现量子芯片测试。