[发明专利]缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202110586585.X | 申请日： | 2021-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN113536894A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 冯豪文;郭师峰;吕高龙;陈丹;冯伟 | 申请（专利权）人： | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06N20/00;G01N29/44 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎坚怡 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质，该方法包括：接收检测信号，检测信号包括时域信号；将时域信号转换成图像信号；将图像信号输入第一深度学习网络，提取图像信号的特征参数，第一深度学习网络至少包括相连接的两层不同类型的网络结构；将特征参数输入第二深度学习网络，输出缺陷检测结果。通过上述方式，本申请能够提高缺陷检测的效率以及准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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