[发明专利]一种高精度天线反射镜位姿形状测量方法有效
| 申请号： | 202110559852.4 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113513977B | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 刘博学;蒲理华;柏宏武;李瑜华;张银磊;苏可可;刘佳 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 高志瑞 |
| 地址： | 710100 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高精度天线反射镜位姿和形状的测量方法：采用点坐标激光干涉测量技术测量天线安装板基准孔空间坐标并通过基准转换建立安装坐标系，在安装坐标系上，利用点坐标激光测量配合直径12.7mm球棱镜分别接触测量反射镜基准孔周边镜面任意位置，获得与基准孔数量对应的任意球棱镜中心坐标，将所测球棱镜中心坐标沿安装坐标系下反射镜面理论模型的法向负方向偏移球棱镜半径偏差6.35mm形成一组反射镜表面实测点，同时沿反射镜面的法向负方向向镜面投影形成一组表面理论点即虚拟基准点。将实测点与理论点进行基准转换，获得反射镜实际安装位置的位姿参数，即为反射镜的位姿装配精度测量结果，同时，通过反射镜表面大量测点与理论模型的直接对比，获得反射镜型面参数，即为反射镜在对应位姿下的形状精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 天线 反射 镜位姿 形状 测量方法 | ||
【主权项】：
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