[发明专利]双面电极结构MEMS微镜的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110547196.6 申请日: 2021-05-19
公开(公告)号: CN115373131A 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 李伟;徐静 申请(专利权)人: 安徽中科米微电子技术有限公司
主分类号: G02B26/08 分类号: G02B26/08;B81B7/02
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 卢炳琼
地址: 233000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种双面电极结构MEMS微镜的制备方法。包括步骤:提供第一基底,于第一基底中形成电极引线槽;于第一器件层中形成绝缘槽、多个下梳齿及运动空间槽以得到键合结构层;提供第二基底,将第二基底与键合结构层键合以得到键合片,第二器件层的表面和第一器件层的表面为键合面;于第二器件层中形成框架、上梳齿、可动微光反射镜及弹性梁,可动微光反射镜位于框架内侧,弹性梁与框架和/或可动微光反射镜相连接;形成金属反射层、第一上梳齿电极、第一下梳齿电极、第二上梳齿电极及第二下梳齿电极。采用本发明,电极引线槽的尺寸及位置等可根据设计需要灵活选择,可以极大提高器件灵活度,可以使得MEMS微镜应用范围更广。
搜索关键词: 双面 电极 结构 mems 制备 方法
【主权项】:
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