[发明专利]一种断层扫描图像中放射粒子的伪影检测方法在审
申请号: | 202110529858.7 | 申请日: | 2021-05-14 |
公开(公告)号: | CN113269733A | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 张翔;官辉;乔晓飞;曲飞寰;毛博石 | 申请(专利权)人: | 成都真实维度科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/66;G06T11/00;G06K9/62 |
代理公司: | 成都中络智合知识产权代理有限公司 51300 | 代理人: | 喻依丰 |
地址: | 610000 四川省成都市武侯区武侯新城管*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明属于数字图像处理技术领域,公开了一种断层扫描图像中放射粒子的伪影检测方法,针对数字断层扫描图像已获取的先验靶区进行处理,首先通过图像特征提取算法获取所有先验靶区中的有效点形成集合A,对集合A采用聚类方法确定属于每个放射粒子的像素点的簇,并由簇内像素点计算质心,该质心的坐标数据即为对应放射粒子的位置信息。本发明的算法可以有效的检测出区域内的粒子所呈现的伪影,同时对这些伪影进行后处理以判断每一颗粒子的具体位置。 | ||
搜索关键词: | 一种 断层 扫描 图像 放射 粒子 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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