[发明专利]一种断层扫描图像中放射粒子的伪影检测方法在审

专利信息
申请号: 202110529858.7 申请日: 2021-05-14
公开(公告)号: CN113269733A 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 张翔;官辉;乔晓飞;曲飞寰;毛博石 申请(专利权)人: 成都真实维度科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/66;G06T11/00;G06K9/62
代理公司: 成都中络智合知识产权代理有限公司 51300 代理人: 喻依丰
地址: 610000 四川省成都市武侯区武侯新城管*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明属于数字图像处理技术领域,公开了一种断层扫描图像中放射粒子的伪影检测方法,针对数字断层扫描图像已获取的先验靶区进行处理,首先通过图像特征提取算法获取所有先验靶区中的有效点形成集合A,对集合A采用聚类方法确定属于每个放射粒子的像素点的簇,并由簇内像素点计算质心,该质心的坐标数据即为对应放射粒子的位置信息。本发明的算法可以有效的检测出区域内的粒子所呈现的伪影,同时对这些伪影进行后处理以判断每一颗粒子的具体位置。
搜索关键词: 一种 断层 扫描 图像 放射 粒子 检测 方法
【主权项】:
暂无信息
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