[发明专利]高阶HDI印制电路板盲孔偏移检测方法有效

专利信息
申请号: 202110526374.7 申请日: 2021-05-14
公开(公告)号: CN113280737B 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 尹张强;邱成伟;李小海 申请(专利权)人: 惠州中京电子科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/00
代理公司: 广东超越知识产权代理有限公司 44975 代理人: 周友元
地址: 516000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请是关于一种高阶HDI印制电路板盲孔偏移检测方法。该方法包括:在电路板的各层工作区域之外设置多个激光盲孔列阵;对所述电路板的各层进行压合,使得所述电路板的各层上设置的所述激光盲孔列阵对应重叠,形成盲孔叠孔;利用X光检测仪透视所述盲孔叠孔,得到所述盲孔叠孔的透视图像;利用所述X光检测仪测量所述盲孔叠孔透视图像中各盲孔图像之间的偏移量,得到所述盲孔图像对应的所述电路板上盲孔的偏移量。本申请提供的方案,能够保障盲孔偏移检测的准确性,有效提高正式钻孔的对位精度,使得电路板电连接更加稳定。
搜索关键词: hdi 印制 电路板 偏移 检测 方法
【主权项】:
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