[发明专利]一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置有效
| 申请号： | 202110428298.6 | 申请日： | 2021-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN113300906B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 余守军 | 申请（专利权）人： | 深圳市精泰达科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L43/50 | 分类号： | H04L43/50;H04L43/12;G01R31/00;G01R1/20 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 吴珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区福城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置，属于PCIe接口测试技术的领域，自动切换包括以下步骤：S1：将测试治具接到待测背板的PCIe接口上；S2：将测试治具、多路切换开关、示波器、MCU和上位机连接好，其中，测试治具lane1‑laneN的信号线分别和多路切换开关的输入口一一对应连接；S3：进入lane测试，示波器抓取测试波形，并将测试波形发送给上位机；S4：是否完成测试，若是则进入S5，若否，则返回S3；S5：上位机发送切换指令给MCU，MCU控制多路切换开关切换到下一个lane数据信号输出；S6：重复S3‑S5步骤，直到完成所有lane的测试。本申请具有提高了测试效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcie 测试 lane 自动 切换 方法 装置 | ||
【主权项】：
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