[发明专利]一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置

权利要求书

1.一种PCIe测试治具Lane自动切换方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：将测试治具(100)接到待测背板的PCIe接口上；

S2：将测试治具(100)、多路切换开关(200)、示波器(300)、MCU和上位机(400)连接好，其中，测试治具(100)lane1-laneN的信号线分别和多路切换开关(200)的输入口一一对应连接；

S3：进入lane测试，示波器(300)抓取测试波形，并将测试波形发送给上位机(400)；

S4：是否完成测试，若是则进入S5，若否，则返回S3；

S5：上位机(400)发送切换指令给MCU，MCU控制多路切换开关(200)切换到下一个lane数据信号输出；

S6：重复S3-S5步骤，直到完成所有lane的测试；

所述直到完成所有lane的测试，包括：

S61：获取数据信号，根据数据信号得到测试治具(100)上lane的数目；

S62：识别当前保存的波形数目，判断波形数目是否和lane的数目相等，若是，则判断所有的lane测试完毕；

所述获取数据信号，包括：

S611：MCU获取压力信号，根据不同引脚上的压力信号得到测试治具(100)lane的数据信号，将数据信号发送给上位机(400)号；其中，所述测试治具(100)上设有压力传感器(102)，不同测试治具(100)上的压力传感器(102)分别和MCU不同的引脚连接。

2.根据权利要求1所述的自动切换方法，其特征在于，在S2中，具体包括：

S21：将测试治具(100)上lane1-laneN的信号线分别和多路切换开关(200)的J1-JN接口连接；

S22：多路切换开关(200)的公共端C和示波器(300)连接，多路切换开关(200)的控制端DB9和MCU连接；

S23：MCU通过串口与上位机(400)通信连接。

3.根据权利要求2所述的自动切换方法，其特征在于，所述测试治具(100)通过SMP线缆和多路切换开关(200)连接。

4.一种PCIe测试治具Lane自动切换装置，其特征在于，适用于权利要求1-3任一所述的自动切换方法，包括：

测试治具(100)，用于和待测背板的PCIe接口连接，测试治具(100)上lane1-laneN的数据信号连到多路切换开关(200)的输入口；

多路切换开关(200)，用于和测试治具(100)、示波器(300)、MCU连接，并根据MCU的信号切换到下一个lane数据信号输出；

示波器(300)，用于和测试治具(100)连接，对波形进行测试，抓取波形并将测试波形发送给上位机(400)；

上位机(400)，用于接收并保存测试波形，并输出切换信号给MCU；

MCU，用于和上位机(400)连接，接收到切换信号后控制多路切换开关(200)进行切换；其中，所述测试治具(100)上设有压力传感器(102)，所述压力传感器(102)位于测试治具(100)靠近金手指(101)的位置，且压力传感器(102)朝向金手指(101)设置，压力传感器(102)和MCU连接。