[发明专利]一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置

说明书

本申请涉及一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置，属于PCIe接口测试技术的领域，自动切换包括以下步骤：S1：将测试治具接到待测背板的PCIe接口上；S2：将测试治具、多路切换开关、示波器、MCU和上位机连接好，其中，测试治具lane1‑laneN的信号线分别和多路切换开关的输入口一一对应连接；S3：进入lane测试，示波器抓取测试波形，并将测试波形发送给上位机；S4：是否完成测试，若是则进入S5，若否，则返回S3；S5：上位机发送切换指令给MCU，MCU控制多路切换开关切换到下一个lane数据信号输出；S6：重复S3‑S5步骤，直到完成所有lane的测试。本申请具有提高了测试效率的效果。

技术领域

本申请涉及PCIe接口测试技术的领域，尤其是涉及一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置。

背景技术

PCI Express（简称：PCIe）是为解决PCI总线存在的问题提出的新型总线，采用串行方式，并且真正使用“电压差分传输”，即是两条信号线，以相互间的电压差作为逻辑“0”、“1”的表示，以此方式传输可以提升传输频率，使信号容易读取，降低噪声影响。

标准PCIe接口的类型有x16、x8、x4和x1，其中，x16有16个Lane，x8有8个Lane，x4有4个Lane。目前的测试治具对PCIe接口进行测试时，将Lane和示波器连接，通过示波器查看波形是否正常。对多个Lane进行测试时，测试完一个Lane后，需要手动更示波器的测试探头，使下一个Lane和示波器连接，然后再进行下一个Lane的测试。

针对上述中的相关技术，发明人认为存在有以下缺陷：面对多个PCIe接口进行测试时，手动更换插头的位置会导致测试效率低。

发明内容

为了提高测试效率，本申请提供了一种PCIe测试治具Lane自动切换方法及装置。

第一方面，本申请提供一种PCIe测试治具Lane自动切换方法，采用如下的技术方案：

一种PCIe测试治具Lane自动切换方法，包括以下步骤：

S1：将测试治具接到待测背板的PCIe接口上；

S2：将测试治具、多路切换开关、示波器、MCU和上位机连接好，其中，测试治具lane1-laneN的信号线分别和多路切换开关的输入口一一对应连接；

S3：进入lane测试，示波器抓取测试波形，并将测试波形发送给上位机；

S4：是否完成测试，若是则进入S5，若否，则返回S3；

S5：上位机发送切换指令给MCU，MCU控制多路切换开关切换到下一个lane数据信号输出；

S6：重复S3-S5步骤，直到完成所有lane的测试。

通过采用上述技术方案，把多个Lane的Data信号用线缆连接到多路切换开关上，通过MCU控制多路切换开关实现把不同Lane的Data信号连接到示波器进行测试，完成自动切换，不需要手动切换lane，提高了测试效率。上位机对测试波形进行保存，便于后续查看。

可选的，在S2中，具体包括：

S21：将测试治具上lane1-laneN的信号线分别和多路切换开关的J1-JN接口连接；

S22：多路切换开关的公共端C和示波器连接，多路切换开关的控制端DB9和MCU连接；

S23：MCU通过串口与上位机通信连接。

通过采用上述技术方案，将多路切换开关、示波器和MCU连接起来，使其能顺利进行测量。测量时，MCU通过多路开关的控制端来控制多路开关进行切换，进行下一lane的测试。

可选的，所述测试治具通过SMP线缆和多路切换开关连接。