[发明专利]一种非接触式地表粗糙度测量装置及方法有效
| 申请号： | 202110421735.1 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN113126113B | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 刘立超;毕全鹏;陈黎卿;陈状;毕大伟;王韦韦;张春岭 | 申请（专利权）人： | 安徽农业大学 |
| 主分类号： | G01S17/88 | 分类号： | G01S17/88;G01S17/00;G01S7/48;G01S7/481 |
| 代理公司： | 北京保识知识产权代理事务所(普通合伙) 11874 | 代理人： | 汪浩 |
| 地址： | 230036 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非接触式地表粗糙度测量装置及方法，属于地表微地貌测量技术领域。非接触式地表粗糙度测量装置与测量方法相匹配，其方法包括以下步骤：S1、调整下支架高度；S2、装置初始化；S3、驱动控制器控制步进电机B按设定的程序精准转动，激光雷达以线扫描方式对待测土壤采样，并将数据传给便携式计算机；S4、驱动控制器控制步进电机A按设定的程序精准转动；S5、重复S3的工作步骤；S6、数据去趋势化处理，得到完整的、较符合评价地表微地貌的三维高程数据；S7、对地表微地貌进行评价。本发明解决了现有的测量方法在测量效率低以及数据后处理得到的三维数据与耕作后形成的不同尺度实际微地貌相符合程度低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 地表 粗糙 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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