[发明专利]试卷批改的方法、装置、存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202110419242.4 申请日: 2021-04-19
公开(公告)号: CN113112511A 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 尹成浩;马志国;张飞飞;杜竹君;阚海鹏;刘腾龙;麻凯利;张明 申请(专利权)人: 新东方教育科技集团有限公司
主分类号: G06T7/12 分类号: G06T7/12;G06T7/136;G06K9/00;G06K9/36;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 贺晓蕾
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及一种试卷批改方法、装置、存储介质及电子设备,可以获取待批改试卷的原始图像,原始图像包括背景区域图像以及待批改试卷的试卷区域图像;将原始图像输入预先训练得到的边缘检测模型,得到多个尺度分别对应的边缘特征点,边缘检测模型的模型结构包括主干网络和与所述主干网络连接的侧边网络,针对每个尺度对应的边缘特征点,采用非极大抑制算法剔除该尺度的边缘特征点中的非目标边缘特征点,得到该尺度的目标边缘特征点;根据多个尺度分别对应的目标边缘特征点确定待批改试卷的边缘特征图像;从边缘特征图像中获取待批改试卷的边缘信息,并根据边缘信息从原始图像中提取出试卷区域图像;根据试卷区域图像对待批改试卷进行批改。
搜索关键词: 试卷 批改 方法 装置 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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