[发明专利]应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法有效
| 申请号： | 202110396897.4 | 申请日： | 2021-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN113064526B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 王亚洲;张金磊 | 申请（专利权）人： | 合肥松豪电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041 |
| 代理公司： | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人： | 余婧 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，包括以下步骤：S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式Long H Mode；S2、在该模式下，当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。基于本方案，虽然坑的长度不够扫描一次，通过软件配置，让触控面板TP在第一个坑内进行CA的充电，在第2个坑内进行AD的采样，2个坑扫一次也可以避开显示面板DP信号干扰，从而消除BASE差现象。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 tddi 芯片 遇到 小坑时触控 面板 tp 扫描 方法 | ||
【主权项】：
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