[发明专利]一种基于紫外图谱的绝缘子污秽状态评估方法在审
| 申请号： | 202110383694.1 | 申请日： | 2021-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN113065484A | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 刘云鹏;来庭煜;杨家骏;刘嘉硕;裴少通;李泳霖 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学（保定） |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/62;G06K9/40;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/66 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 李兴林 |
| 地址： | 071000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于紫外图谱的绝缘子污秽状态评估方法，包括：S1，绝缘子紫外图像预处理：对现场监测获取的紫外图像进行图像预处理，保留紫外图像中的主光斑及其周围的微小光斑，得到光斑图像；S2，基于深度学习卷积神经网络算法对绝缘子污秽状态分类：基于预处理后的光斑图像，按照一定比例随机选取训练集与测试集，以不同类型的光斑图像的每一个像素信息作为输入，进行特征提取；将特征参数输入卷积神经网络进行训练，得出绝缘子属于不同污秽程度下的概率。本发明提供的基于紫外图谱的绝缘子污秽状态评估方法，通过对绝缘子紫外图像预处理、带入卷积神经网络进行训练，自动判断出绝缘子的污秽状态，提高绝缘子在线监测的实时性和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 紫外 图谱 绝缘子 污秽 状态 评估 方法 | ||
【主权项】：
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