[发明专利]一种具有深紫外探测功能的MgGaZnO薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110323797.9 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN113088907A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 王东博;罗佳炜;国凤云;刘东昊;王金忠;矫淑杰 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08;G01J1/42
代理公司: 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 代理人: 李智慧
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明公开了一种具有深紫外探测功能的MgGaZnO薄膜的制备方法,所述方法包括如下步骤:步骤一、制备MgGaZnO陶瓷靶材;步骤二、将石英衬底和MgGaZnO陶瓷靶材放入磁控溅射设备的真空室中进行磁控溅射,得到MgGaZnO薄膜材料;步骤三、将步骤二得到的MgGaZnO薄膜材料进行高温退火处理,得到MgGaZnO薄膜。该方法制备了一种禁带宽度为5.6eV即探测波段位于220nm处的单一立方相的MgGaZnO薄膜材料,解决了MgZnO日盲紫外探测器薄膜材料高镁组分下存在的分相问题,同时通过Ga掺杂改善薄膜的电学性能获得高响应度并且较低的探测波段。
搜索关键词: 一种 具有 深紫 探测 功能 mggazno 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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