[发明专利]有源超表面强辐照场性能测试装置及系统有效
申请号: | 202110315712.2 | 申请日: | 2021-03-24 |
公开(公告)号: | CN113063994B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 张继宏;李杨飞;林铭团;徐明;毋召锋;刘培国;刘继斌 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人: | 周达 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 有源超表面强辐照场性能测试装置及系统,包括标准波导、第一、二高抗阻表面以及第一、二波导同轴转换装置,第一波导同轴转换装置的SMA连接器连接衰减器输入端,衰减器的输出端连接矢量网络分析仪输入端,矢量网络分析仪输出端连接功率放大器输入端,功率放大器输出端连接第二波导同轴转换装置的SMA连接器,将待测试的有源超表面样品通过第一法兰盘夹紧,通过第一、二高阻抗表面在标准波导内部形成均匀平面波辐照场;通过功率放大器放大输入信号,在标准波导内部形成高功率的均匀的准TEM辐照场,通过矢量网络分析仪对样品进行性能测试。本发明能够同时提供均匀平面波和高功率辐照场,同时测试操作简单,成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 有源 表面 辐照 性能 测试 装置 系统 | ||
【主权项】:
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