[发明专利]有源超表面强辐照场性能测试装置及系统

权利要求书

1.有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：包括标准波导、第一高阻抗表面、第二高抗阻表面、第一波导同轴转换装置和第二波导同轴转换装置，所述标准波导是由第一标准波导和第二标准波导通过第一法兰盘对接而成，且待测试的有源超表面样品通过第一法兰盘夹取在第一标准波导和第二标准波导之间；第一高阻抗表面、第二高阻抗表面分别对称贴设在标准波导的中间位置处的上下侧壁上，第一波导同轴转换装置和第二波导同轴转换装置分别连接在标准波导的左右两端，第一波导同轴转换装置和第二波导同轴转换装置均设有SMA连接器。

2.根据权利要求1所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：第一标准波导和第二标准波导的型号尺寸完全相同。

3.根据权利要求1所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：第一波导同轴转换装置和第二波导同轴转换装置的型号尺寸完全相同。

4.根据权利要求3所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：第一波导同轴转换装置和第二波导同轴转换装置分别通过第二法兰盘和第三法兰盘与标准波导连接。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：所述第一高阻抗表面、第二高抗阻表面采用结构尺寸完全相同的高阻抗表面。

6.根据权利要求5所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：所述高阻抗表面包括介质基板层、贴设在介质基板层上表面的贴片阵列以及贴设在介质基板层下表面的金属地层，所述贴片阵列由一系列按照阵列排布的金属方形贴片单元组成，每一个金属方形贴片单元的中心设置有方形金属贴片，每一个金属方形贴片单元的方形金属贴片中心位置设有金属通孔，金属通孔贯穿介质基板层与金属地层连接。

7.根据权利要求6所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：所述介质基板层的材质为FR4。

8.根据权利要求6所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：所述的第一高阻抗表面、第二高抗阻表面其贴设有贴片阵列的一侧面在外，第一高阻抗表面、第二高抗阻表面其贴设有金属地层的一侧面在内且分别与标准波导的上、下侧壁紧贴。

9.根据权利要求8所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，其特征在于：第一高阻抗表面、第二高阻抗表面的宽度与标准波导的上、下侧壁的宽度相同。

10.有源超表面强辐照场性能测试系统，其特征在于：包括权利要求1、2、3、4、6、7、8或9所述的有源超表面强辐照场性能的测试装置，有源超表面强辐照场性能的测试装置中的第一波导同轴转换装置的SMA连接器与衰减器的输入端相连，衰减器的输出端与矢量网络分析仪的输入端相连，矢量网络分析仪的输出端与功率放大器输入端连接，功率放大器输出端连接有源超表面强辐照场性能的测试装置中的第二波导同轴转换装置的SMA连接器，将待测试的有源超表面样品通过第一法兰盘夹紧，通过第一高阻抗表面、第二高阻抗表面在标准波导内部形成均匀平面波辐照场，通过功率放大器放大输入信号，在标准波导内部形成高功率的均匀的准TEM辐照场，通过矢量网络分析仪对待测试的有源超表面样品进行性能测试。