[发明专利]阵列基板的检查方法及显示装置在审
| 申请号： | 202110309053.1 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113450685A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 武政健一;山田一幸;浅田圭介;矶野大树 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09F9/33;H01L27/15 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 陈伟;刘伟志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种能够高效地检查未安装发光元件的阵列基板的电气特性的阵列基板的检查方法及显示装置。阵列基板的检查方法是安装多个发光元件的阵列基板的检查方法，阵列基板具有与多个像素相对应地设置的多个晶体管、多个安装电极和多个检查端子，包括：准备未安装多个发光元件的阵列基板的步骤；将具有在多个像素的范围内延伸的支承部和沿支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个像素构成的像素行配置并使多个检查探头与沿第1方向排列的多个检查端子分别接触的步骤；以及通过多个检查治具对每个像素行检查电气特性的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 检查 方法 显示装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日本显示器，未经株式会社日本显示器许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110309053.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：计算机系统和/或控制系统的鲁棒监测
- 下一篇：液面检测装置及图像形成装置
