[发明专利]阵列基板的检查方法及显示装置

说明书

本发明提供一种能够高效地检查未安装发光元件的阵列基板的电气特性的阵列基板的检查方法及显示装置。阵列基板的检查方法是安装多个发光元件的阵列基板的检查方法，阵列基板具有与多个像素相对应地设置的多个晶体管、多个安装电极和多个检查端子，包括：准备未安装多个发光元件的阵列基板的步骤；将具有在多个像素的范围内延伸的支承部和沿支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个像素构成的像素行配置并使多个检查探头与沿第1方向排列的多个检查端子分别接触的步骤；以及通过多个检查治具对每个像素行检查电气特性的步骤。

技术领域

本发明涉及阵列基板的检查方法及显示装置。

背景技术

近年来，作为显示元件，使用了无机发光二极管(微型LED(micro LED))、即无机发光元件的无机EL显示器受到关注。例如在专利文献1中，记载了一种用于进行无机发光元件的点亮检查的检查治具。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：中国专利申请公开第109686828号说明书

发明内容

在将多个发光元件安装于阵列基板的状态下进行检查的情况下，存在若在阵列基板的电路或布线中发现了不良情况则也会将已经安装好的多个发光元件废弃的情况。另外，需要对安装多个发光元件的像素电路分别检查电气特性，存在检查所需的工序增加、时间增多的情况。因此，制造成本有可能会增大。

本发明的目的在于提供一种能够高效地检查未安装发光元件的阵列基板的电气特性的阵列基板的检查方法及显示装置。

本发明的一个方案的阵列基板的检查方法是安装多个发光元件的阵列基板的检查方法，上述阵列基板具有：与多个像素相对应地设置的多个晶体管；与上述晶体管电连接、且供多个上述发光元件安装的多个安装电极；和与多个上述安装电极电连接的多个检查端子，检查方法包括：准备未安装多个上述发光元件的上述阵列基板的步骤；将具有在多个上述像素的范围内延伸的支承部和沿上述支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个上述像素构成的像素行配置、并使多个上述检查探头与沿上述第1方向排列的多个上述检查端子分别接触的步骤；以及通过多个上述检查治具对每个上述像素行检查电气特性的步骤。

本发明的一个方案的阵列基板的检查方法是安装多个发光元件的阵列基板的检查方法，上述阵列基板具有：与多个像素相对应地设置的多个晶体管；与上述晶体管电连接、且供上述发光元件安装的多个安装电极；按每个由沿第1方向排列的多个上述像素构成的像素行设置、且向多个上述发光元件供给基准电位的多根阴极电源线；和与多根上述阴极电源线电连接的多个阴极检查端子，检查方法包括：准备未安装多个上述发光元件的上述阵列基板的步骤；准备具有在多个上述像素的范围内延伸的支承部和设于上述支承部的多个检查探头的检查治具，并将多个上述检查探头按每个上述像素行配置，且使其与沿与上述第1方向交叉的第2方向排列的多个上述阴极检查端子分别接触的步骤；以及通过多个上述检查探头对每个上述像素行至少进行上述阴极检查端子与上述阴极布线之间的导通检查的步骤。

本发明的一个方案的显示装置具有阵列基板、和安装于上述阵列基板的多个发光元件，上述阵列基板具有：与多个像素相对应地设置的多个晶体管；与上述晶体管电连接、且供上述发光元件安装的多个安装电极；和与上述安装电极电连接的多个检查端子。

附图说明

图1是示意地表示第1实施方式的显示装置的俯视图。

图2是表示一个像素Pix的俯视图。

图3是表示像素电路的电路图。

图4是示意地表示多个像素的俯视图。

图5是将图4的相邻的两个像素放大示出的俯视图。

图6是图5的VI-VI’剖视图。