[发明专利]一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法、装置及设备在审
| 申请号： | 202110303782.6 | 申请日： | 2021-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN113075097A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 黄晓群;袁景阳;池同铭;邓鹏 | 申请（专利权）人： | 厦门理工学院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 | 代理人： | 郭福利 |
| 地址： | 361024 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法、装置及设备,其方法包括:获取由图像采集器采集到光路系统的两幅偏振图像；对两幅所述偏振图像进行运算,以生成所述偏振图像中的粒子图像；根据所述粒子图像,获取所述光路系统在不同入射波长及不同观测角度下的散射偏振比；根据所述散射偏振比对粒子进行反演运算,以获得粒子整体的最优解，基于图像处理获得散射光偏振比，避免了绝对量测量对光路的高要求，提高实验抗干扰性；同时，能实现快速的在线测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散射 偏振 检测 粒径 测量方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
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