[发明专利]一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法、装置及设备

权利要求书

1.一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法,其特征在于,包括:

获取由图像采集器采集到光路系统的两幅偏振图像；

对两幅所述偏振图像进行运算,以生成所述偏振图像中的粒子图像；

根据所述粒子图像,获取所述光路系统在不同入射波长及不同观测角度下的散射偏振比；

根据所述散射偏振比对粒子进行反演运算,以获得粒子整体的最优解。

2.根据权利要求1所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法,其特征在于,所述对两幅所述偏振图像进行运算,以生成所述偏振图像中的粒子图像，具体为：

将所述两幅偏振图像进行背景去噪和二进制处理以获取粒子的准确位置；

对两幅偏振图像进行关联运算，以确定每一个粒子在两幅图像中的对应像素坐标，进而生成粒子图像。

3.根据权利要求1所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法,其特征在于,所述根据所述粒子图像,获取所述光路系统在不同入射波长及不同观测角度下的散射偏振比，具体为：

获取每一所述粒子图像的灰度值；

将所述灰度值进行线性叠加，以获得所述两幅偏振图像的总灰度值；

计算所述光路系统在不同入射波长及不同观测角度下的散射偏振比。

4.根据权利要求1所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法,其特征在于,所述根据所述散射偏振比对粒子进行反演运算,以获得粒子整体的最优解，具体为：

引入粒子所处环境介质与空气的折射率将所述散射偏振比进行修正；

将修正后的所述散射偏振比进行反演运算,以获得粒子整体的最优解。

5.根据权利要求4所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法,其特征在于,所述将修正后的所述散射偏振比进行反演运算,具体为：

将待测微粒群初始化为一群随机粒子，以使得每一粒子有一个适应值；

根据每一粒子的适应值进行迭代，已获得给个体历史最优位置及群体历史最优位置，进而更新粒子的粒度；

当判断到粒子的粒度在误差范围内时，生成粒子整体的最优解。

6.一种基于散射光偏振检测的粒径测量装置,其特征在于,包括:

偏振图像获取单元，用于获取由图像采集器采集到光路系统的两幅偏振图像；

粒子图像生成单元，对两幅所述偏振图像进行运算,以生成所述偏振图像中的粒子图像；

散射偏振比获取单元，用于根据所述粒子图像,获取所述光路系统在不同入射波长及不同观测角度下的散射偏振比；

最优解获取单元，用于根据所述散射偏振比对粒子进行反演运算,以获得粒子整体的最优解。

7.根据权利要求6所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量装置,其特征在于,所述粒子图像生成单元具体用于：

将所述两幅偏振图像进行背景去噪和二进制处理以获取粒子的准确位置；

对两幅偏振图像进行关联运算，以确定每一个粒子在两幅图像中的对应像素坐标，进而生成粒子图像。

8.根据权利要求6所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量装置,其特征在于,所述散射偏振比获取单元具体用于：

获取每一所述粒子图像的灰度值；

将所述灰度值进行线性叠加，以获得所述两幅偏振图像的总灰度值；

计算所述光路系统在不同入射波长及不同观测角度下的散射偏振比。

9.根据权利要求6所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量装置,其特征在于,所述最优解获取单元具体用于：

引入进粒子所处环境介质与空气的折射率将所述散射偏振比进行修正；

将修正后的所述散射偏振比进行反演运算,以获得整体的最优解。

10.一种基于散射光偏振检测的粒径测量设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序实现如权利要求1至5任意一项所述的一种基于散射光偏振检测的粒径测量方法。