[发明专利]摄影装置、测距装置及方法、以及存储介质、计算机装置有效
申请号: | 202110281055.4 | 申请日: | 2021-03-16 |
公开(公告)号: | CN113497892B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | 山田佑 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | H04N23/95 | 分类号: | H04N23/95;H04N25/59;G01C11/02;G01S17/08 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 龚伟;王玉瑾 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及摄影装置、测距装置及方法以及存储介质、计算机装置,其通过具备摄影控制部,用于控制相位图像摄影部以一次摄影动作来拍摄多张相同相位的相位图像,所述相位图像摄影部用于在不同时刻接受向对象物照射来自光源的光而得到的反射光,拍摄多种不同相位的相位图像;图像加法运算部,用于通过对所述用一次摄影动作所拍摄的多张相同相位的相位图像进行加法运算,生成每个所述一次拍摄动作的加法相位图像,并输出该加法相位图像,并由所述摄影控制部控制所述相位图像摄影部对每个所述多种不同相位实施所述摄影动作,达到获得较宽动态范围的相位图像的目的。 | ||
搜索关键词: | 摄影 装置 测距 方法 以及 存储 介质 计算机 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110281055.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有电特性和热特性的安装支架
- 下一篇:船仓干燥系统以及船仓干燥方法