[发明专利]光学机台检验方法在审
| 申请号： | 202110276507.X | 申请日： | 2021-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN113405775A | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 谢升勲;黄裕国 | 申请（专利权）人： | 瑞鼎科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 11234 | 代理人： | 张立晶 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光学机台检验方法，包括下列步骤：(a)设计灰阶可调均匀光源阵列，以量测光源提供的灰阶亮度变化信息；(b)该灰阶可调均匀光源阵列输入测试图样；(c)根据测试图样计算出实际亮度；(d)待测光学机台拍摄测试图样并经计算后得到撷取亮度；(e)根据实际亮度与撷取亮度之间的差异产生待测光学机台是否需校正的评价；以及(f)自动进行校正，以提供正确的光学机台拍摄环境。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 机台 检验 方法 | ||
【主权项】：
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