[发明专利]光学机台检验方法

说明书

本发明公开一种光学机台检验方法，包括下列步骤：(a)设计灰阶可调均匀光源阵列，以量测光源提供的灰阶亮度变化信息；(b)该灰阶可调均匀光源阵列输入测试图样；(c)根据测试图样计算出实际亮度；(d)待测光学机台拍摄测试图样并经计算后得到撷取亮度；(e)根据实际亮度与撷取亮度之间的差异产生待测光学机台是否需校正的评价；以及(f)自动进行校正，以提供正确的光学机台拍摄环境。

技术领域

本发明与光学检测技术有关，尤其是关于一种光学机台检验方法。

背景技术

一般而言，光学机台通常包括镜头及感测器两个主要元件，其主要任务为数据采集。镜头是用以将物空间信息转换至像空间平面。此转换过程容易受到渐晕(Vignetting)、余弦四次方分布、镜头失真(Distortion)导致像素位移等因素影响而需要对镜头进行校正。感测器是用以将像空间平面的光信号转换为电信号后再转换为数位信号。于此转换过程中需要考虑曝光时间及摩尔纹等因素。

举例而言，若曝光时间过短，噪声比过低而使得光学数据品质不佳，容易造成补偿细致度下降；反之，若曝光时间过长，光学亮度较高的部分容易饱和而造成局部补偿异常。至于摩尔纹则与取样频率有关，由于面板与感测器的空间频率会产生和频与差频，且在尼奎氏频率内和频容易被取样及观察，导致在高灰阶出现摩尔纹，故光学厂需要移除之。

此外，在光学机台进行数据采集的过程中，还可能遭遇下列问题：若镜头厂自行于光学机台加入演算法，可能会造成补偿后出现砂状的亮度不均(Mura)现象，需校正；若光学机台拍摄时没有与面板同轴，则光学数据会有歪斜的问题，需校正；若光学机台提供的光学数据的平均亮度并未落在伽玛(Gamma)曲线上，代表此光学数据有误，拍摄时的设定可能有问题，需校正。

然而，由于传统的光学机台检测设备在拍摄周期性的物体时往往拍摄效果不佳，但却又没有其他的设备可以佐证检测设备出现问题，而无从查起，导致光学机台采集到错误的数据而影响到后续的应用端，例如去亮度不均(Demura)等，亟待改善。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种光学机台检验方法，以有效解决现有技术所遭遇到的上述问题。

依据本发明的一具体实施例为一种光学机台检验方法。于此实施例中，该方法包括下列步骤：(a)设计灰阶可调均匀光源阵列，以量测光源提供的灰阶亮度变化信息；(b)灰阶可调均匀光源阵列输入测试图样；(c)根据测试图样计算出实际亮度；(d)待测光学机台拍摄测试图样并经计算后得到撷取亮度；(e)根据实际亮度与撷取亮度之间的差异产生待测光学机台是否需校正的评价；以及(f)自动进行校正，以提供正确的光学机台拍摄环境。

于一实施例中，光源可采用雷射、发光二极管(LED)、冷阴极萤光灯管(CCFL)或其他光源。

于一实施例中，当灰阶可调均匀光源阵列设计为穿透型时，灰阶可调均匀光源阵列包括第一透镜、第二透镜及穿透单元，光源发出的光依序通过第一透镜、第二透镜及穿透单元而射至待测光学机台。

于一实施例中，当灰阶可调均匀光源阵列设计为垂直反射型时，灰阶可调均匀光源阵列包括第一透镜、第二透镜及垂直反射单元，光源发出的光依序通过第一透镜及第二透镜后由垂直反射单元垂直反射至待测光学机台。

于一实施例中，当灰阶可调均匀光源阵列设计为斜向反射型时，灰阶可调均匀光源阵列包括第一透镜、第二透镜及斜向反射单元，光源发出的光依序通过第一透镜及第二透镜后由斜向反射单元斜向反射至待测光学机台。

于一实施例中，当灰阶可调均匀光源阵列设计为匀光器型时，灰阶可调均匀光源阵列包括第一透镜、第一匀光器、第二匀光器、第二透镜及穿透单元，光源发出的光依序通过第一透镜、第一匀光器、第二匀光器、第二透镜及穿透单元后射至待测光学机台。