[发明专利]一种基于液晶光学特性的静电测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110273455.0 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN112834834A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 张豪;陈晓西;徐律涵;王耀强;谢飞;陈思佃 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R29/12 分类号: G01R29/12
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种基于液晶光学特性的静电测量装置及方法,从上至下依次设置光源、液晶盒和图像采集处理模块,液晶盒从上至下依次设置有N个上基板和一个下基板,下基板和每个上基板有且只有一面涂有透明导电膜,且N个上基板涂有透明导电膜的一面朝下,下基板涂有透明导电膜的一面朝上;将下基板与设置在最下面的上基板重合区域的四周进行封接,并在重合区域内部注入液晶;这样每相邻两个上基板构成一个电容,下基板与设置在最下面的上基板构成一个电容,共N个电容串联;下基板设置一个电极导线端接地,N个上基板设置N个电极导线端分别连接到N个档位的测试端;图像采集处理模块采集光源发出的光透过液晶盒后的图像,并提取图像的灰度数据判断静电大小。
搜索关键词: 一种 基于 液晶 光学 特性 静电 测量 装置 方法
【主权项】:
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