[发明专利]时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台有效
| 申请号： | 202110267015.4 | 申请日： | 2021-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN113156799B | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 周文浩;陈晓飞;刘伟 | 申请（专利权）人： | 宏晶微电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G04D7/00 | 分类号： | G04D7/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;冯建基 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台。该时钟测试方法包括基于待测芯片产生的待测时钟获取时钟窗口，其中，时钟窗口的大小是预先设定的；利用标准时钟对时钟窗口进行计数，获得累积时钟计数；其中，标准时钟的频率大于待测时钟的频率；计算累积时钟计数与标准时钟计数的差值，获得累积时钟差值，比较累积时钟差值和预设的时钟阈值，并基于比较结果确定待测芯片的测试结果。该时钟测试方法可提高测试效率，减少误判，而且，可以大大降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 时钟 测试 方法 装置 量产 平台 | ||
【主权项】：
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