[发明专利]时钟测试方法、装置、量产测试方法及测试平台

权利要求书

1.一种时钟测试方法，包括：

基于待测芯片产生的待测时钟获取时钟窗口，其中，所述时钟窗口的大小是预先设定的；

利用标准时钟对预设时间段内的所述时钟窗口进行计数，获得累积时钟计数；其中，所述标准时钟的频率大于所述待测时钟的频率；利用所述时钟窗口的高电平或低电平对所述时钟窗口进行计数；

计算所述累积时钟计数与标准时钟计数的差值，获得累积时钟差值；其中，所述标准时钟计数的时长为所述预设时间段；

比较所述累积时钟差值和预设的时钟阈值，并基于比较结果确定所述待测芯片的测试结果。

2.根据权利要求1所述的时钟测试方法，其中，所述对所述累积时钟差值和预设的时钟阈值进行比较，并基于比较结果确定所述待测芯片的测试结果之后，还包括：

存储所述测试结果，以供查询所述测试结果。

3.一种时钟测试装置，包括：

时钟发生器，用于基于待测芯片产生的待测时钟获取时钟窗口；其中，所述时钟窗口的大小是预先设定的；

时钟管理模块，用于产生标准时钟；其中，所述标准时钟的频率大于所述待测时钟的频率；

计数器，用于基于标准时钟对预设时间段内的所述时钟窗口进行计数，获得累积时钟计数，利用所述时钟窗口的高电平或低电平对所述时钟窗口进行计数；

计算模块，用于计算所述累积时钟计数与标准时钟计数的差值，获得累积时钟差值；其中，所述标准时钟计数的时长为所述预设时间段；

判断模块，用于将所述累积时钟差值与预设的时钟阈值进行比较，并基于比较结果确定所述待测芯片的测试结果。

4.根据权利要求3所述的时钟测试装置，其中，所述时钟管理模块为延迟锁定环或延迟锁相环。

5.一种测试平台，包括时钟测试装置，其中，所述时钟测试装置采用权利要求3或4所述的时钟测试装置。

6.根据权利要求5所述的测试平台，其中，还包括：

时钟分配器，用于对待测芯片产生的待测时钟进行分配，获得至少两路待测时钟，其中一路待测时钟与所述时钟测试装置连接。

7.根据权利要求6所述的测试平台，其中，还包括：

电平转换模块，用于将与所述时钟测试装置连接的所述待测时钟的电平转换为与所述标准时钟的电平一致。

8.一种量产测试方法，包括：

获取待测芯片产生的待测时钟；

基于所述待测时钟产生时钟窗口；其中，所述时钟窗口的大小是预先设定的；

利用标准时钟对预设时间段内的所述时钟窗口进行计数，获得累积时钟计数；其中，所述标准时钟的频率大于所述待测时钟的频率，利用所述时钟窗口的高电平或低电平对所述时钟窗口进行计数；

计算所述累积时钟计数与标准时钟计数的差值，获得累积时钟差值；其中，所述标准时钟计数的时长为所述预设时间段；

比较所述累积时钟差和预设的时钟阈值，并基于比较结果确定所述待测芯片的测试结果。

9.根据权利要求8所述的量产测试方法，其中，所述获取待测芯片产生的待测时钟之前，还包括：

所述待测芯片产生待测时钟后延时预设的延时长度。

10.根据权利要求8所述的量产测试方法，其中，所述待测芯片产生待测时钟后延时预设的时间长度之前，还包括：

在关闭所述标准时钟发生器的情况下，设置所述时钟阈值和所述时钟窗口。