[发明专利]数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路在审
| 申请号： | 202110264997.1 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN115078978A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 蒋知广;张忠 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 姚璐华 |
| 地址： | 201199 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种数字集成电路的扫描链测试方法及系统，方法包括将切换向量和输入数据向量按照预设规则转换为组合向量，进而根据组合向量生成组合信号并输入到数字集成电路，然后在数字集成电路内对组合信号进行分离，得到切换信号和输入数据信号，进而进行扫描链测试。通过将原来的两个信号组合为一个信号输入到数字集成电路，减少了一个PAD端口的需求量，因此，只需要三个PAD端口即可进行扫描链测试，具体的，一个PAD端口用于输入组合信号，一个PAD端口用于输入系统时钟，最后一个PAD端口用于扫描链的输出信号的输出。提高了只有三个PAD端口的数字集成电路的测试覆盖率与可观测性，进而提高了量产测试的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 数字集成电路 扫描 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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