[发明专利]高温高压原位XRD测试装置有效

专利信息
申请号: 202110258965.0 申请日: 2021-03-10
公开(公告)号: CN113049618B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 黄伟峰;陈兴;范辉 申请(专利权)人: 华研环科(北京)科技有限公司
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207;G01N23/20008;G01N23/20033
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 叶濛濛
地址: 100000 北京市丰台*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种高温高压原位XRD测试装置,涉及材料结构机理原位表征技术领域,包括外壳、安装空腔、窗口、样品台、加热系统、高压进气系统;所述外壳的内部设有密闭的安装空腔;所述窗口与所述外壳固定连接;所述窗口包括窗口主体,所述窗口主体为半球罩;所述样品台安装在所述安装空腔中,所述样品台上设有样品槽,所述样品槽的中心位于所述窗口主体的球心处;所述加热系统连接所述样品台;所述高压进气系统包括进气接头、出气接头,所述进气接头和所述出气接头分别连通所述安装空腔。本发明的优点在于:实现样品在高温高压环境下的原位XRD测试功能。
搜索关键词: 高温 高压 原位 xrd 测试 装置
【主权项】:
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