[发明专利]端子压接检查装置及端子压接检查的基准波形的更新方法在审

专利信息
申请号: 202110256734.6 申请日: 2021-03-09
公开(公告)号: CN113391241A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 后藤淳;宇高康记 申请(专利权)人: 新明和工业株式会社
主分类号: G01R31/66 分类号: G01R31/66
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 张晶;敖莲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 端子压接检查装置具备:存储部,其存储基准波形;压力波形获取部,其获取N(其中,N为2以上的自然数)次端子压接的压力波形;第一判定部,其判定获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中是否均在第一规定值以内;平均压力波形计算部,其计算N次端子压接的平均的压力波形;第二判定部,其判定所述平均的压力波形与所述基准波形之差是否在第二规定值以内;以及更新部,其在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在第二规定值以内这两者的情况下,允许所述基准波形的更新。
搜索关键词: 端子 检查 装置 基准 波形 更新 方法
【主权项】:
暂无信息
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