[发明专利]端子压接检查装置及端子压接检查的基准波形的更新方法在审

专利信息
申请号: 202110256734.6 申请日: 2021-03-09
公开(公告)号: CN113391241A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 后藤淳;宇高康记 申请(专利权)人: 新明和工业株式会社
主分类号: G01R31/66 分类号: G01R31/66
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 张晶;敖莲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 端子 检查 装置 基准 波形 更新 方法
【说明书】:

端子压接检查装置具备:存储部,其存储基准波形;压力波形获取部,其获取N(其中,N为2以上的自然数)次端子压接的压力波形;第一判定部,其判定获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中是否均在第一规定值以内;平均压力波形计算部,其计算N次端子压接的平均的压力波形;第二判定部,其判定所述平均的压力波形与所述基准波形之差是否在第二规定值以内;以及更新部,其在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在第二规定值以内这两者的情况下,允许所述基准波形的更新。

技术领域

本发明涉及用于检查端子是否良好地压接于电线的端部的端子压接检查装置及端子压接检查的基准波形的更新方法。

背景技术

以往,在线束的制造等中,使用将端子压接于电线的端部的端子压接装置。由于端子未被良好地压接的带端子电线为不合格品,因此期望在端子压接时检查端子是否被良好地压接。因此,一直以来,利用用于检查端子是否良好地压接于电线的端部的端子压接检查装置。

在日本专利公开2005-135820号公报中,记载了一种装置,其利用压力传感器检测端子压接装置的基板承受的压力,并基于该压力检查端子压接的好坏。在该装置中,首先,对于合格品,生成表示压力相对于端子压接处理的经过时间的变化的压力波形。以下,将该压力波形称为基准波形。然后,将检查品的压力波形与基准波形进行比较,基于它们的差是否在预先规定的规定值以下来判定检查品是合格品还是不合格品。

发明内容

(一)要解决的技术问题

然而,由于端子压接装置的设置环境的变化或老化等,合格品的压力波形略有不同。因此,存在暂时设定的基准波形之后变得不适当的情况。因此,优选适当更新基准波形。但是,在缺乏知识或经验的用户进行基准波形的更新的情况下,有可能在未意识到更新后的基准波形不适当的情况下进行更新。为了防止基准波形的不适当的更新,考虑对更新设置一定的限制。

在日本专利公开2016-154115号公报中,记载了为了防止基准数据与校正数据之差变大,将基准数据的校正范围限制在规定范围内的内容。然而,在日本专利公开2016-154115号公报中,仅描述了限制校正的范围的一般思想,并未公开任何具体的方法。

本发明的目的在于提供一种能够防止基准波形的不适当的更新的端子压接检查装置以及端子压接检查的基准波形的更新方法。

(二)技术方案

本发明的端子压接检查装置是使用压力波形来检查端子压接的好坏的装置,所述压力波形表示端子压接装置所进行的端子压接的进展程度与所述端子压接装置中产生的压力的关系,所述端子压接检查装置具备:存储部,其存储所述压力波形的基准波形;压力波形获取部,其在进行了N(其中,N为2以上的自然数)次端子压接时获取各次的压力波形;第一判定部,其判定获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中是否均在第一规定值以内;平均压力波形计算部,其计算N次端子压接的平均的压力波形;第二判定部,其判定所述平均的压力波形与所述基准波形之差是否在第二规定值以内;以及更新部,其在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在所述第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在所述第二规定值以内这两者的情况下,允许所述基准波形的更新。

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