[发明专利]一种超导全张量磁梯度探头及超导全张量磁梯度测量系统在审
| 申请号： | 202110251821.2 | 申请日： | 2021-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN113030798A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 张树林;王永良;张国锋;宓现强;谢晓明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01R33/022 | 分类号： | G01R33/022;G01R33/035 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 林丽丽 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超导全张量磁梯度探头及超导全张量磁梯度测量系统，所述超导全张量磁梯度探头包括：固定支架，安装于固定支架上的3个平面梯度计及2个轴向梯度计；其中，第1个平面梯度计用于测量Gxy和Gyx中的任一平面梯度分量，第2个平面梯度计用于测量Gxz和Gzx中的任一平面梯度分量，第3个平面梯度计用于测量Gyz和Gzy中的任一平面梯度分量，2个轴向梯度计用于测量Gxx、Gyy和Gzz中的任两个轴向梯度分量。通过本发明提供的超导全张量磁梯度探头及超导全张量磁梯度测量系统，解决了现有超导全张量磁梯度探头只适用于静态测量、低灵敏度动态测量的问题或需要结合旋转结构，导致系统构建比较复杂，实用性不强的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超导 张量 梯度 探头 测量 系统 | ||
【主权项】：
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