[发明专利]一种离子束辅助磁控溅射沉积低温制备氧化铪基铁电薄膜的方法在审
申请号: | 202110248284.6 | 申请日: | 2021-03-07 |
公开(公告)号: | CN113025959A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 梁海龙;张博;郭新涛;秦浩楠 | 申请(专利权)人: | 中国航空制造技术研究院 |
主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/08;C23C14/14;C23C14/22;C23C14/34;C23C14/35 |
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地址: | 100024 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明公开了一种离子束辅助磁控溅射沉积低温制备氧化铪基铁电薄膜的方法,包括以下步骤:(1)清洗基片;(2)将基片吹干,送入溅射室内;(3)用真空泵将溅射室抽至高真空,然后通入高纯氩气对氧化铪靶材和拟掺杂元素的氧化物靶材进行预溅射;(4)开启离子束辅助源和射频磁控溅射系统,在基片不加热的条件下,对基片表面进行一定时间的辅助溅射沉积,进而得到氧化铪基铁电薄膜;(5)关闭离子束辅助源和射频磁控溅射系统,开启上电极靶材的溅射电源,在氧化铪基铁电薄膜的表面制备上电极,进而形成半导体/金属‑HfO |
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搜索关键词: | 一种 离子束 辅助 磁控溅射 沉积 低温 制备 氧化 铪基铁电 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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