[发明专利]一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪有效

专利信息
申请号: 202110229598.1 申请日: 2021-03-02
公开(公告)号: CN112859477B 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 杨可扬;夏军 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G02F1/21 分类号: G02F1/21;G02F1/313;G02F1/13363
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 沈廉
地址: 210096 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于纳米天线的马赫‑曾德尔干涉仪。该干涉仪包括下基板(1)、调制器(2)、双折射材料(3)、上基板(4);所述调制器(2)位于下基板(1)上;所述双折射材料(3)填充于下基板(1)与上基板(4)之间,并包裹调制器(2);所述调制器(2)的移相器(2‑1)为亚波长纳米天线(2‑2)阵列;光在通过纳米天线(2‑2)时,发生米氏共振,具有高前向散射率的同时获得相位延迟,该相位延迟量由双折射材料的折射率控制;通过调制所述双折射材料的折射率,实现干涉仪的输出强度调制。本发明相较于传统的马赫‑曾德尔干涉仪,调制效率更高,工作速度更快,且与CMOS工艺兼容,有利于器件的集成并节约成本。
搜索关键词: 一种 基于 纳米 天线 马赫 曾德尔 干涉仪
【主权项】:
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