[发明专利]一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪

权利要求书

1.一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：该干涉仪包括下基板（1）、调制器（2）、双折射材料（3）、上基板（4）；所述调制器（2）位于下基板（1）上；所述双折射材料（3）填充于下基板（1）与上基板（4）之间，并包裹调制器（2）；所述调制器（2）的移相器（2-1）为亚波长纳米天线（2-2）阵列；光在通过纳米天线（2-2）时，发生米氏共振，具有高前向散射率的同时获得相位延迟量，该相位延迟量由双折射材料的折射率控制；通过调制所述双折射材料的折射率，实现干涉仪的输出强度调制。

2.根据权利要求1所述的一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：所述纳米天线（2-2）采用纳米球或纳米砖或纳米柱。

3.根据权利要求1所述的一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：所述双折射材料（3）采用液晶。

4.根据权利要求3所述的一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：所述液晶采用电驱动方式工作或采用光驱动方式工作。

5.根据权利要求4所述的一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：所述下基板（1）为像素化驱动电路。

6.根据权利要求1所述的一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：所述移相器（2-1）具有混合锥形耦合器，降低了该移相器在传输过程中的损耗。

7.根据权利要求1所述的一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：所述干涉仪用于调制输入光的强度。

8.根据权利要求1所述的一种基于纳米天线的马赫-曾德尔干涉仪，其特征在于：所述干涉仪实现2×2光学门。