[发明专利]微集成电路大规模测试在审
| 申请号： | 202110226261.5 | 申请日： | 2021-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN114660434A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 张元泰;黄立群 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李芳华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 微集成电路大规模测试系统，包含：第一测试区，包含多个测试垫以及多个读取垫，设置于划线上；多个测试控制器逐行设置于划线上；探针，经配置接触第一测试区以测试多行集成电路芯片；每一个测试控制器经配置逐行测试对应的每一行集成电路芯片；其中，探针仅接触第一测试区一次；多个读取垫经配置逐行读取每一行集成电路芯片的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 大规模 测试 | ||
【主权项】：
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