[发明专利]基于概率密度函数提高相移误差检测精度的方法及系统有效

专利信息
申请号: 202110192025.6 申请日: 2021-02-20
公开(公告)号: CN113091645B 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 刘元坤;于馨;陈文静;张启灿;薛俊鹏;王亚军;申俊飞 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 王波
地址: 610065 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了基于概率密度函数提高相移误差检测精度的方法,建立了测量系统中由于相移不准导致的相位误差模型,并提出了一种利用统计方法提取相移误差的算法。即利用“理想情况下截断相位的概率密度(PDF)均匀一致”的特点,对待测条纹采用不同的相移误差组合,计算每条概率密度函数曲线的STD值,STD值最小时对应的补偿相移误差组合作为测量系统的真实相移误差,通过本发明的方法提高了相移误差检测的准确度,减小了检测误差。
搜索关键词: 基于 概率 密度 函数 提高 相移 误差 检测 精度 方法 系统
【主权项】:
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