[发明专利]深度测量方法、芯片和电子设备有效
| 申请号： | 202110184297.1 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN112954230B | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 李明采 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/235 | 分类号： | H04N5/235;G01S17/08 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 518045 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例涉及测距领域，公开了一种深度测量方法、芯片和电子设备。上述深度测量方法包括：根据预设的与N个相位分别对应的N个曝光时长，获取目标场景的N个子帧图像；其中，N为大于或等于2的自然数；根据N个子帧图像，确定目标场景的深度信息；其中，N个相位包括基准相位和扩展相位，N个曝光时长包括与基准相位对应的基准曝光时长和与扩展相位对应的扩展曝光时长；基准曝光时长小于或等于在基准相位及预设的基准距离下图像不过曝的最大时长，扩展曝光时长介于基准曝光时长和在扩展相位及基准距离下图像不过曝的最大时长之间，扩展曝光时长与基准曝光时长不同，使得可以在提高测距的动态范围的同时减小功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 深度 测量方法 芯片 电子设备 | ||
【主权项】：
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