[发明专利]采样装置、采样方法以及用于存储采样程序的存储介质在审

专利信息
申请号: 202110171666.3 申请日: 2021-02-08
公开(公告)号: CN113536229A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 土手晓;田村泰孝 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06F17/17 分类号: G06F17/17;G06F7/575;G06F7/58
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 刘雯鑫;姚文杰
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及采样装置、采样方法以及用于存储采样程序的存储介质。采样方法,包括:执行状态更新处理;执行重复计数计算处理;执行交换控制处理;以及执行输出处理,所述状态更新处理被配置成:保持多个状态变量组的值,多个状态变量组中的每个状态变量组均包括多个状态变量,所述多个状态变量包括在指示伊辛模型的能量的评估函数中,以及通过基于温度值——其中不同的值分别与多个状态变量组相关联——以及由于多个状态变量中的任意一个状态变量的变化引起的能量的变化量在每次尝试中改变多个状态变量中的任意一个状态变量来生成状态转换,输出处理被配置成以预定间隔输出多个状态变量的值和期望值。
搜索关键词: 采样 装置 方法 以及 用于 存储 程序 介质
【主权项】:
暂无信息
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