[发明专利]专用存储芯片的比特位翻转校验方法及存储系统在审
| 申请号： | 202110171618.4 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN114911646A | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 袁地;马东伟;张颖新;田俊龙;耿会娟;支涵斐;胡其成;甄华夏 | 申请（专利权）人： | 安阳师范学院 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350 | 代理人： | 卫麟 |
| 地址： | 455000 河南*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 一种专用存储芯片的比特位翻转校验方法及存储系统。本发明通过两个存储单元同时存储车辆行驶过程中的参数数据。然后，通过异或单元对两存储单元中的数据进行第一次校验，获得可能的比特翻转位。之后，再进一步的通过编码校验单元与输出缓存的相互配合筛选更为可靠的存储数据，对该存储数据中的翻转位进行校正后输出该数据。由此，本发明能够保证汽车存储系统中输出数据不会出现比特位的翻转，因而能够进一步保证汽车可靠运行，并简化对存储单元中偶然出现的翻转比特位的校验排除共工作。 | ||
| 搜索关键词： | 专用 存储 芯片 比特 翻转 校验 方法 存储系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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