[发明专利]基于神经网络的存储器地址的测试方法及测试装置

摘要

本发明公开了一种基于神经网络的存储器地址的测试方法和装置，该方法包括训练集及验证集的生成步骤、神经网络模型形成步骤和地址测试步骤；该地址测试步骤将待测存储器的地址空间转换为二进制的M位地址，将M位二进制的存储器地址输入神经网络模型，得到预测的M位二进制的存储器地址相应的测试结果标签；将测试结果标签为0的所对应的地址为地址空间中需跳过测试的地址；分别指定需跳过测试的地址中特定的N1位均为1时或特定的N2位均为0的地址；分别将该N1位地址或N2位地址分配至第一地址组，将剩余M‑N1或M‑N2位地址分配至第二地址组；以及将第一地址组的N1位和第二地址组的M‑N1位地址按二进制的M位地址的位阶顺序，或将第一地址组的N2位和第二地址组的M‑N2位地址按二进制的M位地址的位阶顺序，以特定规则对所述第一地址组和第二地址组遍历以对对应的地址进行测试。本发明使得测试机台能够对存储器空间地址进行测试的时候跳过特定地址。