[发明专利]芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法有效
| 申请号： | 202110139460.2 | 申请日： | 2021-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN112974272B | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 肖思文;郑朝生;郑挺;肖小波;容承昌;袁俊;卢旭坤;辜诗涛;张亦锋 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/342;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 张艳美;刘光明 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法，分类系统包括进料区、分料区及出料区。进料区设有第一读码器，第一读码器读取进料盘上的标识码，标识码记录有进料盘中各芯片的BIN项信息及坐标。分料区设有多个料槽及机械手臂，机械手臂拿取进料盘中的芯片放至料槽，然后将相同BIN项排列到一起，于相同BIN项达到预设数目时拿取该BIN项芯片并运动至出料区的接料区域。出料区设有台车机构及分盘机构，分盘机构承载多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，处理器根据达到预设数目的BIN项驱使分盘机构、台车机构取出对应的料盘，台车机构承载该出料盘运动至接料区域接收芯片。本发明实现了将进料盘中的多种BIN项芯片分成单一BIN项输出。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 结果 bin 分类 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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