[发明专利]射频测试装置及其测试方法有效
申请号: | 202110139401.5 | 申请日: | 2021-01-28 |
公开(公告)号: | CN114826435B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 曲峰;刘宗民;李伟;李必奇;范西超;郭俊伟;郭景文;王亚丽 | 申请(专利权)人: | 北京京东方技术开发有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 魏艳新;姜春咸 |
地址: | 100176 北京市北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 公开一种射频测试装置及其测试方法,包括:分路模块,具有输入端、第一输出端和第二输出端,第一输出端用于连接第一待测试器件,第二输出端用于连接第二待测试器件;分路模块配置为,将第一输出端与第二输出端中的至少一者与输入端导通,且第一输出端的输出信号与第二输出端的输出信号的功率之和等于输入端的输入信号的功率;测试仪,具有第一信号端和第二信号端,第一信号端与分路模块的输入端连接,第二信号端用于连接第二待测试器件;测试仪配置为向第一信号端输出射频检测信号,并根据射频检测信号和第一信号端接收到的信号,确定第一待测试器件的参数;根据射频检测信号和第二信号端接收到的信号,确定第二待测试器件的参数。 | ||
搜索关键词: | 射频 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
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